单光子源性能表征及测量方法

Characterization and measurement of the performance of single-photon sources

• 发布日期：2024-03-15
• 实施日期：2024-10-01
• 状态：现行

国家标准《单光子源性能表征及测量方法》由TC578（全国量子计算与测量标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国计量科学研究院、中国科学技术大学、科大国盾量子技术股份有限公司、华东师范大学、山西大学、中国电子信息产业集团有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国计量大学、深圳中国计量科学研究院技术创新研究院、中国电子科技集团公司第四十一研究所、济南量子技术研究院。主要起草人甘海勇 、霍永恒 、赵勇 、武愕 、许金时 、傅杨挺 、唐世彪 、廖胜凯 、王军民 、王增斌 、李文文 、王浩敏 、田颖 、宋振飞 、史学舜 、包小辉 、胡建勇 、于春霖 、王海龙 、王柳 、王明磊 。

基础信息

• 标准号：GB/T 43784-2024
• 标准类别：方法
• 发布日期：2024-03-15
• 实施日期：2024-10-01
• 部分代替标准：暂无
• 全部代替标准：暂无

• 中国标准分类号：A60
• 国际标准分类号：17计量学和测量、物理现象17.180光学和光学测量17.180.20颜色和光的测量
• 归口单位：全国量子计算与测量标准化技术委员会
• 执行单位：暂无
• 主管部门：全国量子计算与测量标准化技术委员会

采标情况

起草单位

起草人

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